試驗(yàn)范圍：

　　1) 一次繞組對(duì)二次繞組及外殼

　　2) 各二次繞組間及其對(duì)外殼的絕緣電阻，測(cè)量接地端N對(duì)外殼的絕緣電阻

　　試驗(yàn)接線：

　　絕緣電阻試驗(yàn)測(cè)量接線均為測(cè)試?yán)@組首末端短接加壓，非被測(cè)繞組首末端短接接地。

　　試驗(yàn)步驟：

　　(1)試驗(yàn)前步驟：

　　1) 填寫(xiě)工作票，編寫(xiě)作業(yè)控制卡，辦理工作許可手續(xù);

　　2) 檢查并抄寫(xiě)電磁式電壓互感器銘牌數(shù)據(jù)，并記錄環(huán)境溫濕度;

　　3) 試驗(yàn)前對(duì)兆歐表本身進(jìn)行檢查，將兆歐表水平放穩(wěn)。將E端接地(先接接地端，再接儀器端)，接測(cè)試線至L端，并保持懸空，加壓，此時(shí)測(cè)得數(shù)據(jù)為200+GΩ。然后將L端接線接地，此時(shí)測(cè)得數(shù)據(jù)為0，則兆歐表正常;

　　(2)測(cè)量一次繞組對(duì)二次繞組及外殼：

　　1) 將所有二次繞組短路接地;

　　2) 一次繞組首尾(A、N)短接后應(yīng)接兆歐表的L端;屏蔽線接兆歐表G端;

　　3) 連接電源盤(pán)電源線，連接儀器電源線(若自帶電池有電可直接使用)，打開(kāi)電源開(kāi)關(guān)，選好測(cè)量檔位按啟動(dòng)鍵測(cè)量，數(shù)據(jù)穩(wěn)定或1min后，按下停止鍵，記錄數(shù)據(jù);

　　4) 測(cè)量結(jié)束，斷開(kāi)儀器總電源開(kāi)關(guān)，斷開(kāi)電源盤(pán)開(kāi)關(guān)，拔掉電源插頭;

　　5) 拆除試驗(yàn)引線前要先對(duì)被試設(shè)備和附近導(dǎo)電體進(jìn)行放電。放電先用帶電阻端放電后再用接地端直接接地放電;

　　6) 掛好接地棒，取下儀器端高壓線，拆除所有短接線。

　　(3)各二次繞組間及其對(duì)外殼的絕緣電阻：

　　1) 互感器外殼已經(jīng)接地，將A、N短路并接地;

　　2) 一組二次繞組端接后應(yīng)接兆歐表L端，其他二次繞組短路接地;

　　3) 重復(fù)1)~3)，并依次測(cè)量其他二次繞組;

　　4) 掛好接地棒，先拆除儀器端高壓線，再拆除儀器接地線(應(yīng)先拆除儀器端，再拆除接地端)，最后拆除所有短接線，取下接地棒，結(jié)束試驗(yàn)。

　　試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：

　　(1)測(cè)量一次繞組對(duì)二次繞組及地時(shí)，試驗(yàn)電壓用2500V;各二次繞組間及其對(duì)外殼時(shí)，試驗(yàn)電壓用1000V;

　　(2)交接時(shí)，測(cè)量一次繞組對(duì)二次繞組及地，各二次繞組間及其對(duì)外殼的絕緣電阻值不宜低于1000MΩ;

　　(3)例行試驗(yàn)時(shí)，一次繞組的初值差不超過(guò)-50%(注意值);二次繞組≥10MΩ(注意值);

　　(4)測(cè)量N對(duì)地的絕緣電阻不宜低于1000MΩ;

　　試驗(yàn)周期：

　　(1)交接時(shí);

　　(2)投運(yùn)前;

　　(3)110kV及以上：3年 35kV：6年;

　　(4)必要時(shí)

　　試驗(yàn)注意事項(xiàng)：

　　1) 選用專(zhuān)用屏蔽測(cè)試線并應(yīng)有足夠的絕緣強(qiáng)度，否則測(cè)試線不能拖地，應(yīng)使用絕緣桿或絕緣帶支撐，避免影響測(cè)量結(jié)果;

　　2) 濕度的影響：濕度對(duì)表面泄露電流的影響較大，絕緣表面吸附潮氣，瓷套和二次絕緣板表面形成水膜常使絕緣電阻顯著降低，一般應(yīng)在空氣相對(duì)濕度不高于80%條件下進(jìn)行試驗(yàn)，在相對(duì)濕度大時(shí)，采取清掃、電吹風(fēng)吹干、屏蔽等措施消除影響;

　　3) 放電時(shí)間的影響，測(cè)試完畢接地并充分放電，放電時(shí)間大于充電時(shí)間，以利于將剩余電荷放盡。否則在重復(fù)試驗(yàn)時(shí)，其充電電流和吸收電流將比第一次測(cè)量時(shí)小，造成絕緣電阻增大的虛假現(xiàn)象;

　　4) 溫度的影響，絕緣電阻隨溫度的上升而減小;為了將測(cè)量值與過(guò)去比較，應(yīng)將測(cè)得的絕緣電阻值換算到同溫時(shí)，才可比較;

　　5) 感應(yīng)電壓的影響，當(dāng)被試設(shè)備上感應(yīng)電壓較高時(shí)影響測(cè)試結(jié)果;

　　6) 避免測(cè)試線破損、斷線、掉頭等;

　　7) 如果所測(cè)試品的絕緣電阻過(guò)低時(shí)，排除測(cè)試接線帶來(lái)的測(cè)量誤差后，應(yīng)盡量進(jìn)行分解試驗(yàn)，以找出絕緣電阻最低的部分;

　　試驗(yàn)數(shù)據(jù)：